روشهای اندازهگیری در مقیاس نانو
اشعه ایکس - پراش سنج / طیفنمایی فوتوالکترونی / میکروسکوپی الکترونی تراگسیل / میکروسکوپی نیروی اتمی / طیفنمایی جذبی اتمی / میکروسکوپی پروب روبشی / میکروسکوپی تونلزنی روبشی / میکروسکوپهای الکترونی روبشی
پژوهشگران عرصه دانش مواد و مهندسی متالوژی، از دیرباز تاکنون درصدد کنکاش برای شناخت مشخصات و ویژگیهای گوناگون مواد و پی بردن به ارتباط میان آنها برآمدهاند. از این طریق میتوان ضمن استنتاج ویژگیهای ساختاری مواد به تحلیل علل بروز سایر خواص آنها، از جمله ویژگیهای فیزیکی، شیمیایی، مکانیکی، حرارتی و متالوژیکی نیز پرداخت. در کتاب حاضر تلاش شده تا به مبانی، کاربردها و اصول بهرهگیری از این روشها پرداخته شود.